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艾德克斯ITECH**單模組帶雙路動(dòng)態(tài)功率分配功能電子負(fù)載
日期：2013-05-09瀏覽：2146次
艾德克斯ITECH**IT8700系列單模組帶雙路動(dòng)態(tài)功率分配功能電子負(fù)載，zui大程度滿足不同測(cè)試需求
艾德克斯ITECH以強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，電子負(fù)載產(chǎn)品的測(cè)試的新領(lǐng)域，推出IT8700高性能電子負(fù)載系列，此負(fù)載系列單個(gè)模塊可以達(dá)到600W ，zui高電壓可達(dá)500V ，的在一個(gè)模組中帶雙路動(dòng)態(tài)功率分配，可讓使用者根據(jù)測(cè)試需求，任意調(diào)整為所需的兩路負(fù)載，可以在一個(gè)機(jī)箱里面實(shí)現(xiàn)zui多8路輸入，在配置擴(kuò)展機(jī)箱zui多實(shí)現(xiàn)16路輸入，可以zui大程度的滿足A/D 電源、D/D Converters、Charger、Batteries、Adapter等產(chǎn)品制造商對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目增加的測(cè)試需求。
IT8700 模塊種類齊全，從200W 到600W 不等，搭配功能強(qiáng)大的主控機(jī)箱，可同步執(zhí)行多組負(fù)載模塊拉載的應(yīng)用。后背板輸出端子，易于配線，保證前面板整潔，易于操作者快速觀察測(cè)試數(shù)據(jù)，內(nèi)建波形產(chǎn)生在LIST 模式下，可以仿真各種帶載波形。借由高速的精密運(yùn)算,IT8700電子負(fù)載實(shí)踐了不同于一般負(fù)載定電流及定功率的拉載方式;定阻抗模式（ CZ Mode ） 可以模擬實(shí)際的感抗、阻抗、容抗與負(fù)載來進(jìn)行拉載，因此，拉載電流更能趨近于非純阻性負(fù)載真實(shí)情況。
此功能主要用途，可用于仿真負(fù)載存在大容量電容時(shí)的開機(jī)拉載特性，以及仿真電機(jī)之電感性負(fù)載特性。
艾德克斯此系列新產(chǎn)品的推出，將為電源制造產(chǎn)品線提供更好的測(cè)試方案。
公司鏈接 ：
艾德克斯電子（ITECH）作為美國(guó)第四大儀器公司B&K-Precision集團(tuán)成員，多年來一直致力于測(cè)試領(lǐng)域的研究，專業(yè)生產(chǎn)高性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，電源和電子負(fù)載等大功率電子測(cè)試儀器，產(chǎn)品以高性能及高質(zhì)量廣受國(guó)內(nèi)外各大企業(yè)采用，產(chǎn)品出口遍及歐美日等三十余國(guó)家，廣泛應(yīng)用與各個(gè)領(lǐng)域。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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