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關(guān)于福祿克FLUKE PM6306 LCR電橋問題
日期：2012-11-08瀏覽：3452次
關(guān)于福祿克FLUKE PM6306 LCR電橋問題
操作：
1．正確開機(jī)自檢結(jié)束后，按【FREQ】，【AC】，選取測(cè)量頻率，測(cè)量電平；如果測(cè)電解電容或小阻抗的電感時(shí)按 【INT】另加內(nèi)部直流偏壓電壓；
2．將測(cè)試夾具插入，按【CONTACT CHECK】檢查其連接是否良好；
3．按【FIXTURE SET】進(jìn)行測(cè)試夾具設(shè)置，使用測(cè)試線夾具時(shí)選擇SET-C 3，僅用測(cè)試位夾時(shí)選擇SET-C 0；
4．按【ZERO TRIM】進(jìn)行調(diào)零（切記：設(shè)置好一切后才調(diào)零）；
5. 接入元件按【AUTO】進(jìn)行測(cè)量；
6.按 [＠/Z] ，[Q/D]， [Vx/Ix] 查看被測(cè)元件的相角/阻抗，品質(zhì)因數(shù)/損耗因數(shù)，電平/電流。
說明：
測(cè)量時(shí)測(cè)量數(shù)值前顯示“DOMINANT”，即元件的標(biāo)稱值；顯*號(hào)表明測(cè)量數(shù)值超出基本精度；閃爍“OVER”表明測(cè)量所加的直流偏置過高，應(yīng)減小直流偏置值再進(jìn)行測(cè)量。
目前Fluke所有型號(hào)及同惠早期的電橋都沒有ALC功能，有的電橋只是某一測(cè)量電平范圍恒壓（恒流）；Fluke電橋沒有測(cè)量值平均功能，只有表示測(cè)量速度的平均時(shí)間指數(shù)Average OFF,1,2,3 level.
【FIXTURE SET】測(cè)量時(shí)應(yīng)考慮測(cè)試夾具的雜散電容，選擇匹配的測(cè)試夾參數(shù)設(shè)置才能測(cè)量出器件本身的真正值，特別是測(cè)試信號(hào)頻率﹥20KHz時(shí)。如果選用PM9542SMD,SMD測(cè)試夾；PM9541B 4線帶夾測(cè)試線；PM9540/TWE,SMD鑷夾；PM9540/BAN,4線勾插頭測(cè)試線時(shí)，存在300pF雜散電容，由n=Cground/100pF得知選SET-C 3。不用特殊測(cè)試夾具，僅用配帶的測(cè)試位夾時(shí)選擇SET-C 0。
【CONTACT CHECK】 檢查附件夾具連接是否良好，如果連接良好，按下此鍵屏幕顯示PASS；當(dāng)顯示FAIL時(shí)，連接不良，按【AUTO】中止檢查，重新檢查設(shè)置。
【ZERO TRIM】測(cè)量小電容、小電感時(shí)，為追求精度，須開路/短路歸零，尤其是利用測(cè)試夾具時(shí)，更須將測(cè)試線所存在的小電容、小電感值去除，才能測(cè)量出器件本身的真正值。
如果測(cè)試條件不斷改變，選擇全校零操作，即選TRIM A依照如下步驟進(jìn)行調(diào)零：
1． 按ZERO TRIM，用旋鈕選TRIM A（如果使用同樣測(cè)試條件測(cè)量，連續(xù)使用儀器時(shí)每隔4小時(shí)也需選擇TRIM I進(jìn)行調(diào)零）
2． 再按一次ZERO TRIM鍵，屏幕顯示閃爍“BUSY Oct”，提示將測(cè)試夾開路，開始15秒倒數(shù)計(jì)時(shí)開路調(diào)零（間隔調(diào)零不用15秒，直接開路調(diào)零緊接著短路調(diào)零，具體依照操作）
3． 上一步結(jié)束后，屏幕顯示閃爍“BUSY Sct”，即提示將測(cè)試夾具短接
4． 再按一次ZERO TRIM鍵，15秒倒數(shù)計(jì)時(shí)后，微調(diào)成功，屏幕出現(xiàn)“PASS”，反之顯示失敗“FAIL”。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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